菲希爾進(jìn)口X熒光射線測厚儀XDL
菲希爾進(jìn)口X熒光射線測厚儀XDL
設(shè)計用途:能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF), 用于測定超薄鍍層和溶液分析。
元素范圍:從元素 氯(17) 到 鈾(92),配有可選的WinFTM® BASIC軟件時,最多可同時測定24種元素。
測量方式:從上往下;
設(shè)計理念:臺式儀器,測量向上開啟。
X射線探測:X射線接收器,比例接收器。
該系列型號采用定制,每一臺的設(shè)備都是根據(jù)用戶實(shí)際情況,測量需求所配置的。所以兼容性是非常高的。
測量距離:0~80mmsh使用自研的DCM測量距離補(bǔ)償法。
樣品定位:視頻系統(tǒng),高分辨率CCD彩色攝像頭,沿著初級X射線光束方向觀察測量位置