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三坐標(biāo)探頭 雷尼紹tp200價格

TP200:具有模塊交換功能的超小型應(yīng)變片式測頭

特性與優(yōu)點 應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測量 零復(fù)位誤差 無各向同性影響 六向測量能力 測針測量距離達(dá)100 mm（GF測針） 快速測頭模塊交換，無需重新標(biāo)定測尖 壽命 >1000萬次觸發(fā)

雷尼紹提供品種齊全、具有理想性價比的系統(tǒng)，既可在手動坐標(biāo)測量機(jī)上進(jìn)行簡單的性能檢測，也可在數(shù)控高速機(jī)器上進(jìn)行復(fù)雜輪廓測量。

觸發(fā)式測頭測量離散的點，是檢測三維幾何工件的理想選擇。

雷尼紹提供品種齊全、具有理想性價比的系統(tǒng)，既可在手動坐標(biāo)測量機(jī)上進(jìn)行簡單的性能檢測，也可在數(shù)控高速機(jī)器上進(jìn)行復(fù)雜輪廓測量。

TP200 / TP200B測頭本體

TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。

傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。

TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標(biāo)測量機(jī)傳導(dǎo)振動或在移動速度很高的情況下使用長測針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問題。

請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測針。

附件：

TP200測針模塊

測針模塊通過高重復(fù)性機(jī)械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭過行程保護(hù)功能。

有三種測針模塊可供選擇，具有兩種不同的過行程測力。