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鐵素體檢測儀fmp30的使用說明

FERITSCOPERFMP30用于確定奧氏體和雙相鋼的鐵素體含量，并確定奧氏體材料中變形馬氏體的比例。
儲存和運輸以及校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)
使用基礎(chǔ)和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)（鐵氧體標(biāo)準(zhǔn)品）對儀器進(jìn)行歸一化和校準(zhǔn)。
正確的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)條件是正確校準(zhǔn)并因此進(jìn)行正確測量的重要先決條件。
請遵守以下內(nèi)容以確保校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的正確條件：
為了在接觸測量期間將底座和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)件的磨損降至*低，請僅將它們用于校準(zhǔn)，而不用于測試測量！
不要弄臟或刮擦校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)！
用未損壞的干凈標(biāo)準(zhǔn)物替換腐蝕或刮傷的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)物或帶有強(qiáng)凹痕的標(biāo)準(zhǔn)物。
為防止校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品弄臟或損壞，請將其保存在隨附的包裝盒中以進(jìn)行運輸和存儲。

鐵素體檢測儀fmp30的使用說明DEL鍵功能說明：

選出最后測得的讀數(shù)
重復(fù)按DEL：連續(xù)刪除openblock的讀數(shù)。
2 x DEL：在標(biāo)準(zhǔn)化過程中刪除所有讀數(shù)：
1x DEL-刪除最后一個讀數(shù)，
2x DEL-刪除基礎(chǔ)材料的測量系列。在校準(zhǔn)期間：
1x DEL-刪除最后一個讀數(shù)，
2x DEL-刪除當(dāng)前校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的測量系列。
重復(fù)按DEL鍵：刪除先前校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的測量系列。
..在所有菜單中：
DEL-返回上一級菜單或取消該過程。

所有可以連接到儀器的探頭在其連接器插頭中均配有一個存儲芯片，即所謂的EEPROM。 特定于探針的信息（例如，探針類型，生產(chǎn)編號，測量方法或主特性系數(shù)）被**存儲（即使沒有電源）在該存儲芯片中，該信息可能會被覆蓋多次 如預(yù)期的。接通儀器電源時，該信息將由儀器自動檢索和處理。 儀器“識別"連接的探頭。僅當(dāng)使用分配給打開的應(yīng)用程序的探針進(jìn)行測量時，才能執(zhí)行正確的測量。

各種探針模型可用于對具有不同形狀和不同表面特性的物體進(jìn)行測量。 具有不同測量范圍的特殊探頭可用于以下應(yīng)用領(lǐng)域，例如：

• 特別粗糙或磨蝕的表面

• 特別柔軟的表面

• 表面受潮濕，酸性污染，特別是厚涂層或薄涂層

• 熱表面

• 管道和鉆孔中的涂層

有關(guān)可用的探頭型號和適合您的應(yīng)用的探頭型號，請參見手冊“測量探頭和測量輔助工具-優(yōu)化的探頭3"。相應(yīng)的探頭數(shù)據(jù)表。您可以從Helmut Fischer GmbH或授權(quán)的供應(yīng)商處獲得此手冊。

2. 為此，IIW（英國國際焊接協(xié)會）發(fā)展了二級標(biāo)準(zhǔn)片，根據(jù)DIN EN ISO8249標(biāo)準(zhǔn)和ANSI/AWS A4.2標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的方法制造。
       3. Helmut Fischer提供鑒定過的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片供客戶校準(zhǔn)儀器，這些標(biāo)準(zhǔn)片可以追溯到TWI二級標(biāo)準(zhǔn)片。
       4. 標(biāo)準(zhǔn)片上標(biāo)明了兩種單位：鐵素體個數(shù)FN和百分比含量%Fe。
       5. 可通過發(fā)貨前設(shè)置修正系數(shù)或用客戶定制的標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)儀器來減少工件幾何形狀（曲率、厚度等）對測量的影響。
       6. 不同的校準(zhǔn)信息分別儲存在不同的應(yīng)用程式內(nèi)。

標(biāo)準(zhǔn)配置：FERITSCOPE® FMP30 604-300儀器，背帶，儀器箱，電池組，打印版操作指導(dǎo)，CD光盤（含操作說明和USB驅(qū)動程序，連接電纜FMP/PC