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德國菲希爾FISCHER
英國泰勒霍普森 Taylor Hobson
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德國馬爾Mahr
德國艾達米克-霍梅爾Hommel
日本三豐 Mitutoyo
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日本柯尼卡美能達KONICA MINOLTA
德國Qnix尼克斯
德國森薩帕特Sensopart
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美國狄夫斯高 Defelsko
美國Fluke 福祿克
美國Mark-10測力計
美國雷泰 Raytek
美國SDI
美國FLIR 前視紅外熱像系統(tǒng)
美國Fluke福祿克
美國GE無損檢測
上海尚材 SCTMC
香港嘉儀CanNeed
宇舟 金相機械設(shè)備
北京時代 TIME
英國易高Elcometer
英國Renishaw雷尼紹
瑞士博勢 Proceq
表面處理層無損檢測系統(tǒng)
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華東代理fischer xdl-b鍍層測厚儀 FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基于Windows 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測量方向從上往下，單一鍍層、二元合金層、三元合金層和雙鍍層例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/C
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菲希爾測厚儀